Filmetrics 薄膜測厚儀

Filmetrics F40 薄膜測厚儀結合顯微鏡的薄膜測量系統

Filmetrics的精密光譜測量系統讓用戶(hù)(hù)簡(jiǎn)(jiǎn)單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)(xué)常數，通過(guò)(guò)對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。

當測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區域進(jìn)(jìn)行，或者其他應用要求光斑小至1微米時(shí)(shí)，F40是的選擇。使用先前足部校正顯微鏡的物鏡，再進(jìn)(jìn)行測量，即可獲得的厚度及光學(xué)(xué)參數值。只要透過(guò)(guò)Filmetrics的C-mount連接附件，F40就可以和市面上多數的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶(hù)(hù)從電腦屏幕上清晰地看到樣品和測量位置。

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