美國Filmetrics F50 光學(xué)(xué)薄膜厚度測量?jì)x
簡(jiǎn)(jiǎn)要描述：桌面式薄膜測厚儀美國Filmetrics F50 光學(xué)(xué)膜厚測量?jì)x自動(dòng)(dòng)化薄膜厚度繪圖系統 依靠 F50的光譜測量系統，可以很簡(jiǎn)(jiǎn)單快速地獲得Z大直徑 450 毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。
產(chǎn)(chǎn)品型號：Filmetrics-F50- 廠(chǎng)(chǎng)商性質(zhì)(zhì)：生產(chǎn)(chǎn)廠(chǎng)(chǎng)家
- 更新時(shí)(shí)間：2023-06-05
- 訪(fǎng)(fǎng) 問(wèn)(wèn) 量：3424
F50薄膜厚度測量?jì)x
自動(dòng)(dòng)化薄膜厚度繪圖系統
依靠F50的光譜測量系統，可以很簡(jiǎn)(jiǎn)單快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動(dòng)(dòng)平臺，可以非?？燜俚畝ㄎ凰铚y試的點(diǎn)(diǎn)并測試厚度，測試非?？燜?，大約每秒能測試兩點(diǎn)(diǎn)。用戶(hù)(hù)可以自己繪制需要的點(diǎn)(diǎn)位地圖。F50系統配置高精度使用壽命長(cháng)(cháng)的移動(dòng)(dòng)平臺，確保能夠做成千上萬(wàn)(wàn)次測量。
系統中預設了許多極坐標形、方形和線(xiàn)(xiàn)性的圖形模式，也可以編 輯自己需要的測試點(diǎn)(diǎn)。只需掌握基本電腦技術(shù)(shù)便可在幾分鐘內建立自己需要的圖形模式。
可測樣品膜層
基本上所有光滑的。非金屬的薄膜都可以測量?？蓽y樣品包括：
選擇Filmetrics的優(yōu)(yōu)勢
• 桌面式薄膜厚度測量
• 24小時(shí)(shí)電話(huà)(huà)，郵件和在線(xiàn)(xiàn)支持
• 所有系統皆使用直觀(guān)(guān)的標準分析軟件
附加特性
• 嵌入式在線(xiàn)(xiàn)診斷方式
• 免費離線(xiàn)(xiàn)分析軟件
• 精細的歷史數據功能，幫助用戶(hù)(hù)有效存儲，重現與繪制測試結果
